Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387258003 - 3 de agosto de 2005
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 1st ed. 2005. Corr. 2nd printing 2011 edition

R.F. Egerton

Preço
Mex$ 3.882,78

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Data prevista de entrega 11 - 20 de ago

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Também disponível como:

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 1st ed. 2005. Corr. 2nd printing 2011 edition

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.

216 pages, 122 black & white illustrations, 5 black & white tables, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 3 de agosto de 2005
Data do lançamento original 2008
ISBN13 9780387258003
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 202
Dimensões 155 × 235 × 14 mm   ·   430 g
Idioma English  
Mostrar tudo

Mais por R.F. Egerton

Ver tudo de R.F. Egerton ( por exemplo Hardcover Book e Paperback Book )