Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - Livros - Springer International Publishing AG - 9783319398761 - 7 de julho de 2016
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 2nd ed. 2016 edition

R.F. Egerton

Preço
₺ 4.073,58

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Data prevista de entrega 11 - 19 de ago

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Também disponível como:

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 2nd ed. 2016 edition

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.

207 pages, 109 black & white illustrations, 15 colour illustrations, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 7 de julho de 2016
ISBN13 9783319398761
Editoras Springer International Publishing AG
Páginas 196
Dimensões 165 × 243 × 22 mm   ·   471 g
Idioma German  
Mostrar tudo

Mais por R.F. Egerton

Ver tudo de R.F. Egerton ( por exemplo Hardcover Book e Paperback Book )