Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - Livros - Springer International Publishing AG - 9783319819860 - 30 de maio de 2018
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 edition

R.F. Egerton

Preço
元 496,08

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Data prevista de entrega 12 - 20 de ago

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Também disponível como:

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 edition

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.

196 pages, 15 Illustrations, color; 109 Illustrations, black and white; XI, 196 p. 124 illus., 15 il

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 30 de maio de 2018
ISBN13 9783319819860
Editoras Springer International Publishing AG
Páginas 196
Dimensões 234 × 156 × 16 mm   ·   324 g
Idioma German  
Mostrar tudo

Mais por R.F. Egerton

Ver tudo de R.F. Egerton ( por exemplo Hardcover Book e Paperback Book )