Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics - Hui Xie - Livros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642445019 - 26 de novembro de 2014
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Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics 2012 edition

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€ 169,49

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Data prevista de entrega 26 de ago - 9 de set
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The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.


344 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 26 de novembro de 2014
ISBN13 9783642445019
Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 344
Dimensões 155 × 235 × 19 mm   ·   503 g
Idioma Inglês  

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