Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics - Hui Xie - Livros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642203282 - 28 de setembro de 2011
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Hui Xie
Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics 2011 edition

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Data prevista de entrega 28 de out - 5 de nov
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The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.

360 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 28 de setembro de 2011
ISBN13 9783642203282
Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 344
Dimensões 155 × 235 × 25 mm   ·   612 g
Idioma Francês  

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