Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Livros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065699 - 12 de fevereiro de 2010
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Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

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These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

420 pages, 17 black & white tables, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 12 de fevereiro de 2010
ISBN13 9783642065699
Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 420
Dimensões 155 × 235 × 23 mm   ·   698 g
Idioma Alemão  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

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