Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Livros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 21 de fevereiro de 2006
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Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

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These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 21 de fevereiro de 2006
Data do lançamento original 2005
ISBN13 9783540262428
Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 420
Dimensões 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Idioma Alemão  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

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