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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

Bharat Bhushan

Preço

€ 140,99

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There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	22 de fevereiro de 2006
ISBN13	9783540269090
Editoras	Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas	378
Dimensões	166 × 243 × 21 mm · 716 g
Idioma	German
Editor	Bhushan, Bharat
Editor	Fuchs, Harald

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