Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489985101 - 28 de novembro de 2014
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Rajesh Garg
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

Preço
€ 104,49

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Data prevista de entrega 18 - 26 de nov
Presentes de Natal podem ser trocados até 31 de janeiro
Receba avisos sobre novos lançamentos de Rajesh Garg

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Ainda não avaliado

Também disponível como:

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.

212 pages, 28 black & white tables, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 28 de novembro de 2014
ISBN13 9781489985101
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 212
Dimensões 155 × 235 × 13 mm   ·   335 g
Idioma Inglês  

Mais da mesma editora

Ver tudo de Rajesh Garg