Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441909305 - 16 de novembro de 2009
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Rajesh Garg
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

Preço
€ 175,49

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Data prevista de entrega 29 de out - 12 de nov
Presentes de Natal podem ser trocados até 31 de janeiro
Receba avisos sobre novos lançamentos de Rajesh Garg

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Ainda não avaliado

Também disponível como:

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.

212 pages, 28 black & white tables, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 16 de novembro de 2009
ISBN13 9781441909305
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 212
Dimensões 159 × 238 × 24 mm   ·   508 g
Idioma Inglês  

Mais da mesma editora

Ver tudo de Rajesh Garg