Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing - Benoit Nadeau-dostie - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475782912 - 26 de abril de 2013
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

Benoit Nadeau-dostie

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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels.

239 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 26 de abril de 2013
ISBN13 9781475782912
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 239
Dimensões 178 × 254 × 14 mm   ·   458 g
Idioma English  
Editor Nadeau-Dostie, Benoit

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