Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing - Benoit Nadeau-dostie - Livros - Springer - 9780792386698 - 30 de setembro de 1999
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing 2000 edition

Benoit Nadeau-dostie

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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels.

239 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 30 de setembro de 1999
ISBN13 9780792386698
Editoras Springer
Páginas 239
Dimensões 178 × 254 × 15 mm   ·   653 g
Idioma English  
Editor Nadeau-Dostie, Benoit

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