Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461377986 - 4 de outubro de 2012
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Preço
€ 97,99

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Data prevista de entrega 17 - 25 de jun

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 4 de outubro de 2012
ISBN13 9781461377986
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 167
Dimensões 150 × 220 × 10 mm   ·   369 g
Idioma Inglês  
Editor Zorian, Yervant

Mere med samme udgiver