High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 31 de janeiro de 2012

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Stephan Eggersgluss
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability Stephan Eggersgluss 2012 edition

Name: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Price: 95.49 EUR
Availability: OutOfStock
Author: Stephan Eggersgluss

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2012 edition

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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

Stephan Eggersgluss

2012 edition

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

193 pages, 52 black & white tables, biography

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	31 de janeiro de 2012
Data do lançamento original	2011
ISBN13	9781441999757
Editoras	Springer-Verlag New York Inc.
Páginas	193
Dimensões	155 × 235 × 12 mm · 476 g
Idioma	Inglês