High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 31 de janeiro de 2012
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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Stephan Eggersgluss

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This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

193 pages, 52 black & white tables, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 31 de janeiro de 2012
Data do lançamento original 2011
ISBN13 9781441999757
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 193
Dimensões 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Idioma English  
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