Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing - Leendert M. Huisman - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441937674 - 8 de dezembro de 2010
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Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

Leendert M. Huisman

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The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.

250 pages, 46 black & white illustrations, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 8 de dezembro de 2010
ISBN13 9781441937674
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 250
Dimensões 155 × 235 × 14 mm   ·   385 g

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