Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing - Leendert M. Huisman - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387249933 - 21 de junho de 2005
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Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition

Leendert M. Huisman

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CA$ 156,87

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The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.

250 pages, 46 black & white illustrations, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 21 de junho de 2005
ISBN13 9780387249933
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 250
Dimensões 155 × 235 × 15 mm   ·   576 g
Idioma English  

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