Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Hisham Haddara - Livros - Springer - 9780792396956 - 31 de janeiro de 1996
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1995 edition

Hisham Haddara

Preço
₺ 6.326,08

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Data prevista de entrega 5 - 17 de jul

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Também disponível como:

Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1995 edition

The need for more deep and extensive characterization of MOSFET param eters has further increased as the applications of this device have gained ground in many new fields in which its performance has become more and more sensi tive to the properties of its Si - Si0 interface.

232 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 31 de janeiro de 1996
ISBN13 9780792396956
Editoras Springer
Páginas 232
Dimensões 155 × 235 × 15 mm   ·   530 g
Idioma English  
Editor Haddara, Hisham

Ver tudo de Hisham Haddara ( por exemplo Hardcover Book e Paperback Book )