Applied Measurement with jMetrik - Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) - Livros - Taylor & Francis Ltd - 9780415531979 - 25 de junho de 2014
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Applied Measurement with jMetrik 1º edição

Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)

Preço
$ 79,49

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Data prevista de entrega 5 - 16 de jun
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Applied Measurement with jMetrik 1º edição

Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.


55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 25 de junho de 2014
ISBN13 9780415531979
Editoras Taylor & Francis Ltd
Páginas 170
Dimensões 229 × 153 × 9 mm   ·   266 g
Idioma English