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Applied Measurement with jMetrik 1º edição

Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)

Preço

€ 227,99

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Data prevista de entrega 7 - 16 de jan de 2025

Presentes de Natal podem ser trocados até 31 de janeiro

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Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.

55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	27 de junho de 2014
ISBN13	9780415531955
Editoras	Taylor & Francis Ltd
Páginas	170
Dimensões	152 × 229 × 15 mm · 362 g
Idioma	English