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CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Reliability 1st ed. 2016 edition
Jiann-Shiun Yuan
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元 505,62
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Data prevista de entrega 26 de mai - 5 de jun
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CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Reliability 1st ed. 2016 edition
Jiann-Shiun Yuan
The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.
106 pages, 101 black & white illustrations, biography
| Mídia | Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura) |
| Lançado | 21 de abril de 2016 |
| ISBN13 | 9789811008825 |
| Editoras | Springer Verlag, Singapore |
| Páginas | 106 |
| Dimensões | 155 × 235 × 6 mm · 1,83 kg |
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