Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology - - Livros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642098703 - 22 de novembro de 2010
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Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition

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Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.

279 pages, 14 black & white tables, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 22 de novembro de 2010
ISBN13 9783642098703
Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 224
Dimensões 150 × 220 × 10 mm   ·   429 g
Idioma Alemão  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

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