Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology - - Livros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540850380 - 4 de novembro de 2008
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Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology 2009 edition

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Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.

279 pages, 14 black & white tables, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 4 de novembro de 2008
ISBN13 9783540850380
Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 224
Dimensões 162 × 244 × 16 mm   ·   594 g
Idioma Alemão  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

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