Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology - Donna R. Kemp - Livros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540373186 - 18 de outubro de 2006
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Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st edition

Preço
€ 140,99

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Data prevista de entrega 16 - 24 de set
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Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.


338 pages, 7 black & white tables, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 18 de outubro de 2006
ISBN13 9783540373186
Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 338
Dimensões 155 × 235 × 19 mm   ·   648 g
Idioma Inglês  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald
Editor Kawata, Satoshi

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