X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences - Shih-Lin Chang - Livros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540211969 - 24 de junho de 2004
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Shih-Lin Chang
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences 2004 edition

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X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi crystals.

436 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 24 de junho de 2004
ISBN13 9783540211969
Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 436
Dimensões 156 × 234 × 25 mm   ·   807 g
Idioma Alemão  

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