Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Lecture Notes in Electrical Engineering - Xiao Liu - Livros - Springer International Publishing AG - 9783319375946 - 23 de agosto de 2016

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Xiao Liu
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Lecture Notes in Electrical Engineering Xiao Liu Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition

Name: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Lecture Notes in Electrical Engineering
Price: 111.49 EUR
Availability: OutOfStock
Author: Xiao Liu

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2013 edition

(2013) € 97,99

Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Lecture Notes in Electrical Engineering

Xiao Liu

Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition

This book surveys state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits, discusses key challenges in post-silicon validation and offers automated solutions that are systematic and cost-effective.

123 pages, 21 black & white illustrations, 38 colour illustrations, 18 black & white tables, biograp

Mídia	Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado	23 de agosto de 2016
ISBN13	9783319375946
Editoras	Springer International Publishing AG
Páginas	108
Dimensões	155 × 235 × 7 mm · 185 g