Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Livros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - 1 de fevereiro de 2019
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

Ireneusz Mrozek

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This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 1 de fevereiro de 2019
ISBN13 9783030081980
Editoras Springer Nature Switzerland AG
Páginas 135
Dimensões 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g
Idioma Alemão  

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