Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Livros - Springer London Ltd - 9781849968201 - 22 de outubro de 2010
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition

Preço
€ 144,99

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Data prevista de entrega 16 - 24 de jul
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Ainda não avaliado

Também disponível como:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 22 de outubro de 2010
ISBN13 9781849968201
Editoras Springer London Ltd
Páginas 298
Dimensões 155 × 235 × 16 mm   ·   435 g
Idioma Inglês  

Mais por Edmund G. Seebauer

Mostrar tudo

Mere med samme udgiver