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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method Pierre-Richard Dahoo
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method
Pierre-Richard Dahoo
288 pages
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 6 de abril de 2021 |
| ISBN13 | 9781786306876 |
| Editoras | ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc |
| Páginas | 288 |
| Dimensões | 150 × 220 × 20 mm · 562 g |
| Idioma | Inglês |
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