Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation - Deshayes, Yannick (IMS Laboratory, University of Bordeaux, Bordeaux, France) - Livros - ISTE Press Ltd - Elsevier Inc - 9781785481529 - 26 de setembro de 2016
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation

Deshayes, Yannick (IMS Laboratory, University of Bordeaux, Bordeaux, France)

Preço
Mex$ 2.741,16

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Data prevista de entrega 3 - 14 de jul
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation

172 pages

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 26 de setembro de 2016
ISBN13 9781785481529
Editoras ISTE Press Ltd - Elsevier Inc
Páginas 172
Dimensões 158 × 238 × 15 mm   ·   426 g