CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Livros - Materials Research Society - 9781605111285 - 19 de novembro de 2009
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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

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The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

179 pages, illustrations

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 19 de novembro de 2009
ISBN13 9781605111285
Editoras Materials Research Society
Páginas 194
Dimensões 160 × 236 × 18 mm   ·   432 g
Idioma Inglês  
Editor Butterbaugh, Jeffery W.
Editor Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Editor Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Editor Rachmady, Willy
Editor Taylor, Bill

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