Bias Temperature Instability for Devices and Circuits - - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493955299 - 1 de outubro de 2016
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition

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Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

821 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 1 de outubro de 2016
ISBN13 9781493955299
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 810
Dimensões 150 × 220 × 10 mm   ·   1,37 kg
Idioma Inglês  
Editor Grasser, Tibor

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