Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 - Samuel H Cohen - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475793277 - 4 de junho de 2013
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Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Preço
€ 169,49

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Data prevista de entrega 24 de ago - 7 de set
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Também disponível como:

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994


259 pages, 250 black & white illustrations, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 4 de junho de 2013
ISBN13 9781475793277
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 250
Dimensões 178 × 254 × 14 mm   ·   462 g
Idioma Inglês  
Editor Cohen, Samuel H.
Editor Lightbody, Marcia L.

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