Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475790290 - 8 de junho de 2013
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition

Patrick Echlin

Preço
€ 97,99

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Data prevista de entrega 12 - 22 de set
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 8 de junho de 2013
ISBN13 9781475790290
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 454
Dimensões 152 × 229 × 24 mm   ·   630 g
Idioma English  

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