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Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition

Yusuf Leblebici

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229 pages, biography

Mídia	Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado	27 de setembro de 2012
ISBN13	9781461364290
Editoras	Springer-Verlag New York Inc.
Páginas	229
Dimensões	155 × 235 × 13 mm · 335 g
Idioma	English