Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Yusuf Leblebici - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461364290 - 27 de setembro de 2012
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Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition

Yusuf Leblebici

Preço
₩ 311.640

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Data prevista de entrega 14 - 22 de ago
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229 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 27 de setembro de 2012
ISBN13 9781461364290
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 229
Dimensões 155 × 235 × 13 mm   ·   335 g
Idioma English