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Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition
Yusuf Leblebici
Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition
Yusuf Leblebici
229 pages, biography
Mídia | Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura) |
Lançado | 27 de setembro de 2012 |
ISBN13 | 9781461364290 |
Editoras | Springer-Verlag New York Inc. |
Páginas | 229 |
Dimensões | 155 × 235 × 13 mm · 335 g |
Idioma | English |
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