Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Jose Pineda de Gyvez - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363835 - 23 de fevereiro de 2014
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Jose Pineda de Gyvez

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The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's).

191 pages, 48 black & white illustrations, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 23 de fevereiro de 2014
ISBN13 9781461363835
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 167
Dimensões 155 × 235 × 11 mm   ·   281 g
Idioma English  

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