IDDQ Testing of VLSI Circuits - Ravi K Gulati - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363774 - 12 de outubro de 2012
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IDDQ Testing of VLSI Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Ravi K Gulati

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IDDQ Testing of VLSI Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported.

128 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 12 de outubro de 2012
ISBN13 9781461363774
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 124
Dimensões 178 × 254 × 7 mm   ·   240 g
Idioma English  
Editor Gulati, Ravi K.
Editor Hawkins, Charles F.

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