Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits - Jian Cheng Zhang - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461359357 - 2 de novembro de 2012
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

Jian Cheng Zhang

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Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications.

234 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 2 de novembro de 2012
Data do lançamento original 1995
ISBN13 9781461359357
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 234
Dimensões 155 × 235 × 13 mm   ·   362 g
Idioma English  

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