Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952875 - 21 de setembro de 2011
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J. Altet
Thermal Testing of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Preço
€ 112,49

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Data prevista de entrega 4 - 18 de set
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Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.

204 pages, 102 black & white illustrations, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 21 de setembro de 2011
ISBN13 9781441952875
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 204
Dimensões 155 × 235 × 12 mm   ·   322 g
Idioma Inglês  

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