Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing - Erik Larsson - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952691 - 2 de fevereiro de 2011
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Erik Larsson
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

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SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling.

388 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 2 de fevereiro de 2011
Data do lançamento original 2010
ISBN13 9781441952691
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 388
Dimensões 150 × 220 × 10 mm   ·   571 g
Idioma Inglês  

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