Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing - Said Hamdioui - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402077524 - 31 de março de 2004

Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Conte aos seus amigos sobre este item:

Said Hamdioui
Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing Said Hamdioui 2004 edition

Name: Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing
Price: 112.49 EUR
Availability: OutOfStock
Author: Said Hamdioui

Preço

€ 112,49

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Data prevista de entrega 24 de ago - 7 de set

Receba avisos sobre novos lançamentos de Said Hamdioui

O que dizem nossos clientes:

Top-vurdering på Google Reviews, baseret på tusinder af anmeldelser.

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor

Melhor classificação na Trustpilot

Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Ainda não avaliado

Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing

Said Hamdioui

2004 edition

Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

221 pages, biography

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	31 de março de 2004
ISBN13	9781402077524
Editoras	Springer-Verlag New York Inc.
Páginas	221
Dimensões	155 × 235 × 14 mm · 526 g
Idioma	Inglês