Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems - Quality and Reliability Engineering Series - Kirk A. Gray - Livros - John Wiley & Sons Inc - 9781118700235 - 23 de maio de 2016
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Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems - Quality and Reliability Engineering Series 1º edição

Kirk A. Gray

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Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems - Quality and Reliability Engineering Series 1º edição

Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.

300 pages

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 23 de maio de 2016
ISBN13 9781118700235
Editoras John Wiley & Sons Inc
Páginas 296
Dimensões 236 × 161 × 19 mm   ·   498 g
Idioma English  

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