Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - Yervant Zorian - Livros - Kluwer Academic Publishers - 9780792399209 - 31 de maio de 1997
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Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

Yervant Zorian

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Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

This volume of research presents updated test strategies for MCMs. It is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers seeking current test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 31 de maio de 1997
ISBN13 9780792399209
Editoras Kluwer Academic Publishers
Páginas 167
Dimensões 203 × 254 × 11 mm   ·   535 g
Idioma English  
Editor Zorian, Yervant

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