Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits - Jian Cheng Zhang - Livros - Springer - 9780792395515 - 28 de fevereiro de 1995
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits 1995 edition

Jian Cheng Zhang

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Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications.

234 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 28 de fevereiro de 1995
ISBN13 9780792395515
Editoras Springer
Páginas 234
Dimensões 155 × 235 × 15 mm   ·   539 g
Idioma English  

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