Conte aos seus amigos sobre este item:
2000 European Test Workshop (Etw) IEEE Postproceed Ieee
Você tem um perfil? Entrar
Receba avisos sobre novos lançamentos de Ieee
Adicione à sua lista de desejos do iMusic
2000 European Test Workshop (Etw) IEEE Postproceed
Ieee
The 25 papers cover delay testing and test scheduling, scan and functional testing, system testing, quiescent current testing, analog and mixed-signal testing, core-based testing, fault simulation and field programmable gate array testing, challenges in deep sub-micron testing, high level tests, mem
| Mídia | Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura) |
| Lançado | 1 de novembro de 2000 |
| ISBN13 | 9780769507019 |
| Editoras | IEEE Computer Society Press,U.S. |
| Páginas | 181 |
| Dimensões | 216 × 273 × 13 mm · 650 g (Peso (estimado)) |
| Idioma | Inglês |