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Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide
Tompkins, Harland G. (Motorola, Inc.)
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Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide
Tompkins, Harland G. (Motorola, Inc.)
While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry.
248 pages, Illustrations
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 6 de abril de 1999 |
| ISBN13 | 9780471181729 |
| Editoras | John Wiley & Sons Inc |
| Páginas | 248 |
| Dimensões | 237 × 163 × 19 mm · 516 g |
| Idioma | English |
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