Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387400907 - 28 de junho de 2006
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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology And Ed. edition


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Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.


282 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 28 de junho de 2006
ISBN13 9780387400907
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 282
Dimensões 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g

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