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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology Adam Foster And Ed. edition
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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology
Adam Foster
Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.
282 pages, biography
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 28 de junho de 2006 |
| ISBN13 | 9780387400907 |
| Editoras | Springer-Verlag New York Inc. |
| Páginas | 282 |
| Dimensões | 155 × 235 × 17 mm · 589 g |