Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387333250 - 27 de novembro de 2006
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Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications 2007 edition

Weilie Zhou

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Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications 2007 edition

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

552 pages, 399 black & white illustrations, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 27 de novembro de 2006
ISBN13 9780387333250
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 522
Dimensões 155 × 235 × 30 mm   ·   1,05 kg
Idioma English  
Editor Wang, Zhong Lin
Editor Zhou, Weilie
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