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High Resolution Focused Ion Beams: Fib and Its Applications: the Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology 2002 edition

Jon Orloff

Preço

CA$ 333,36

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Suitable for both the user and the designer of FIB instrumentation, this book focuses on high resolution focused ion beams (FIBs).

304 pages, biography

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	31 de outubro de 2002
ISBN13	9780306473500
Editoras	Springer Science+Business Media
Páginas	304
Dimensões	155 × 235 × 20 mm · 589 g
Idioma	English